论文解决了什么问题
模拟集成电路的性能依赖增益、带宽、噪声等多维权衡,但现有共享方式存在两大障碍:网表只记录连接关系而不表达设计意图与层级结构,代工厂保密协议又使支撑结果的工艺模型与测试平台无法公开。这导致论文发表的电路难以被他人重建、验证或复用到更大系统中。
核心方法
analog-db 用领域特定语言将每个设计描述为工艺无关拓扑、带匹配约束的参数空间、可执行数据手册与工艺绑定四元组。通过标签子图匹配自动检测功能子模块并赋予结构角色,测试平台模板与规格带随类别注册,使电路可跨开源 PDK 降低为可运行 SPICE deck,并以 schema-governed 文件契约供 AI agent 直接查询与复用。
方法与已有工作的区别
有原文依据与 AnalogGym 相比,analog-db 提供每电路验收带、层级组合与机器可读契约,而 AnalogGym 仅发布扁平网表与两类共享测试模板;与 Masala-CHAI 的 7500 教科书网表相比,analog-db 规模较小但附带测试平台、记录结果与 schema 契约;与 AMS-SizingBench 相比,analog-db 同时发布满足规格的设计点,而非仅给阈值。
实验结论
- 在稳压器语料上,23 个电路-工艺绑定在典型 corner、匹配器件、无版图条件下均满足自身记录的规格带
- 23 个绑定中有 10 个满足通用类别规格带
- 17 个导入尺寸失败的测试平台在 gm/ID sizing loop 下通常 1–3 次迭代收敛
- 监督案例中,编码智能体在开源 130 nm 工艺上为斩波仪表放大器 sizing,定位了 4 处手工录入缺陷和一个缺失的共模反馈环路,而仅做 sizing 的基线未能修复这些问题
- 数据库包含 68 个电路、16 个类别,其中 65 个带有记录设计点
局限性与证据边界
- 当前发布仅评估典型 corner、匹配器件、无版图条件,未建模器件失配,因此 CMRR/PSRR 等指标为系统性上界,硅片实测会受失配限制
- 子模块检测基于确定性模板匹配,模板库在归档版本仅覆盖器件级,语料中 51% 的器件被赋予结构角色,近失配变体被严格匹配语义排除
- 共模反馈结构仅作为独立条目发布,模板尚未识别扁平网表中内联的同类结构,导致覆盖率统计未计入
- 三个电路(ia_005、sw_003、drv_001)因静态代码引脚或自包含测试平台原因,未完全绑定类别模板,测量值记录在数据手册但无绑定测试平台
适合谁阅读
模拟/混合信号 IC 设计自动化研究者开源 PDK 生态与可复现硬件设计社区系统基础设施Agent 系统数据集
可核验的原论文来源和作者
- 作者
- 作者信息暂未从原始元数据中确认
- 来源
- arXiv
- 论文 ID
- 2609.01286